Wissenschafter der TU Wien erforschen mit neuer Methode Auswirkungen winziger Defekte in Halbleitermaterialien

Halbleitermaterialien haben ein großes Problem, das ganz klein ist. Auch bei sorgfältigster Produktion sind Atome manchmal am falschen Platz. Weil elektronische Bauteile immer kleiner werden, wirken sich solche Defekte immer stärker aus. Ein neues Christian Doppler-Labor an der Technischen Universität (TU) Wien will dieses Problem mit neuen Methoden erforschen, um Halbleiterchips zu verbessern.

Auf atomarer Skala lassen sich atomare Defekte in Halbleiterstrukturen nie vollständig vermeiden. Einzelne Atome können in der regelmäßigen Kristallstruktur nicht ganz richtig angeordnet sein oder es finden sich atomare Fehler an Grenzflächen zwischen verschiedenen Materialien. Solche Defekte können das elektrische Verhalten eines Bauteils entscheidend verändern und seine Leistungsfähigkeit einschränken.