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Sun testet RFID unter Extrembedingungen
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Do., 08. Juni, 2006 um 22:26
#1
Unter dem Namen "Sun Advanced Product Testing Lab for RFID and Sensors" hat Sun Microsystems in Longmont, Colorado (USA), eine neue Einrichtung geschaffen, um Techniken zur Radio Frequency Identification unter Extrembedingungen zu en. Kunden können dort die Auswirkungen von Hitze und Kälte, Erschütterungen und Schwingungen, Luftfeuchtigkeit, Einsatzhöhe und Druck auf RFID- und Sensortechniken untersuchen. https://www.ress.at/-news08062006222616.html |
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