Sun testet RFID unter Extrembedingungen

08. Juni 2006, 22:26 |  0 Kommentare

Unter dem Namen "Sun Advanced Product Testing Lab for RFID and Sensors" hat Sun Microsystems in Longmont, Colorado (USA), eine neue Einrichtung geschaffen, um Techniken zur Radio Frequency Identification unter Extrembedingungen zu en. Kunden können dort die Auswirkungen von Hitze und Kälte, Erschütterungen und Schwingungen, Luftfeuchtigkeit, Einsatzhöhe und Druck auf RFID- und Sensortechniken untersuchen.



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